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        Low-E 膜系设计和反演软件OSC Low-E

        快速光谱测试系统FSS

        等离子控制系统PCS


Low-E膜系设计和反演软件OSC Low-E 

  • 自行开发,中文操作界面;

  • 客户定制的操作习惯;

  • 实现对溅射镀膜的材料进行研究,如折射率拟合、镀膜速率控制等;

  • 实现对Low-E膜系的设计,常见的单银、双银膜系,以及国际领先的三银膜系等;

  • 与常见的光谱仪数据进行无缝对接,可以根据用户的数据特点定制数据处理格式;

  • 实时快速对工艺数据进行反演,实现对生产线的稳定控制;

  • 对产品颜色进行实时的计算和控制;

  • 结合生产线特点的调整方式;

  • 强大的数据库处理和管理功能,便于跟踪产品质量和工艺;

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快速光谱测试系统FSS

  • 与Low-E镀膜线配合,快速准确测试产品的光谱;

  • 能够测量大面积玻璃的透过、膜面反射、玻面反射光谱中的部分或者全部;

  • 测试时间短,数据处理迅速;

  • 能够远程控制,实现工艺的稳定监控;

  • 能与OSC Low-E无缝配合;

  • 自动测试,无需频繁调整和校准;

  • 精密位移控制系统,能够与设备配合调整产品的均匀性;

  • 实时计算出光谱和颜色的均匀性,便于质量控制;

  • 数据库管理历史数据,便于对比和跟踪工艺;

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等离子体控制系统PCS

  • 监控镀膜过程中材料的等离子体浓度(强度);

  • 与功率源和气体控制等相结合调整产品的均匀性;

  • 实现镀膜速率的定量目标设定调整;

  • 全部中文界面和简易操作习惯的软件系统;

  • 与系统控制软件结合,实现镀膜过程的全自动控制;

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